ラックレベルのバックアップから高電圧システムまで ― 無停電給電を確実に検証
再現性・定量性・トレーサビリティを備えた BBU 検証プラットフォーム
承德科技が選ばれる理由
AI、クラウド、HPC の普及によりラックの電力密度が高まり、データセンターのバックアップ電源は従来型 UPS からラックレベルの BBU（Battery Backup Unit）へと急速に移行しています。現在の BBU 検証では、単に「放電できるか」を確認するだけでは不十分です。必要なバックアップ時間を確保できるか、DC Bus の電圧低下後に十分な速さで介入できるか、高電圧・高出力条件でも安定して動作できるか、さらに長期的な SOH（State of Health）を追跡できるかが重要になります。承德科技は、低電圧向け BT-2000 と高電圧向け PBT-2000 のデュアルプラットフォーム構成により、これらの検証ニーズを一括でカバーします。統合ソフトウェア iBest を中心に、恒温槽、BMS 通信、ES／ET 計測モジュールとの連携も可能で、再現性とトレーサビリティに優れたエンドツーエンドの検証環境を構築できます。
ソリューション概要
48V BBU から高電圧システムまで、電圧アーキテクチャに応じた最適な試験環境を提供します。48V Core Pack には BT-2000、600V／800V／1000V の高電圧システムには PBT-2000 を採用。PBT-2000 は最大 95% の回生効率に対応し、研究開発、品質保証、生産ラインにおけるバックアップ時間、瞬時切替、サイクル寿命、SOH、BMS 連動の検証を効率化します。
BBU 検証における主な課題
| 課題項目 | 技術上の課題 |
検証ポイント |
| バックアップ時間 | 停電後、データ保護に必要な時間を維持できるか | CC／CP 放電およびエネルギーレポート |
| 瞬時切替 | Bus 電圧低下後の介入タイミングは十分か | シナリオ試験ステップと切替性能 |
| デュアル電圧 | 48V と 800V アーキテクチャが併存 | BT-2000 + PBT-2000 |
| 健全性 | 劣化後もバックアップの信頼性を維持できるか | SOH、サイクル、DCIR |
| 通信連動 | BMS の制御方針と保護機能は正しいか | CAN／Modbus／SMBus |
デュアルプラットフォーム検証アーキテクチャ
セルレベルの開発から HV Pack まで、電圧アーキテクチャに合わせて最適な試験プラットフォームを選択できます。
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アーキテクチャ階層 |
代表電圧 | 試験ポイント |
推奨製品 |
| セル前工程 | 5V | 材料／セル選別、Pulse／DCIR | BT-2000 5V |
| BBU Module | ~48V | 容量、内部抵抗、サイクル、SOH、通信、バックアップ時間、Bus トリガー | BT-2000 60V |
| HV Pack／HV BBU | 600／800／1000V | 高出力、回生、動的動作条件、BMS | PBT-2000 |
主要な試験機能
低電圧｜BT-2000＋iBest（~48V Core Pack／OCP）
- 推奨構成は 60V/60A、60V/100A。さらに 60V/300A、100V の高電流仕様にも対応し、セル前工程には 5V 高電流システムを用意しています。
- 容量・バックアップ時間、充放電性能、サイクル耐久、DC Bus／停電シナリオを総合的に検証。
- Pulse／HPPC によるパルス・動的電力試験、各種動作波形、DCIR／ACIR 測定に対応。
- 測定精度 ±0.02% F.S.、充放電切替 <5 ms、4段階電流レンジ、マルチチャンネルのモジュール拡張に対応。
高電圧｜PBT-2000＋iBest（800V 推奨）
- 600V／800V／1000V、100～500 kW、200／600／1000A の幅広い高電圧・高出力構成に対応。
- 高出力充放電、サイクル耐久、Pulse／HPPC、FUDS／DST、カスタム波形試験に対応。
- 切替時間 <2 ms、回生効率 最大 95%、PF >0.99。バッテリー試験とバッテリーシミュレーションの2モードを1台でサポートします。
高度なシステム統合オプション
- Chamber 恒温槽 — 温度条件を変えながら、バックアップ性能と保護動作を検証。
- BMS データ収集器 — CAN／Modbus／SMBus などを介して、保護ロジック、動的充電、ステージ切替条件を検証。
- ES-100B — 各セルの電圧と電圧ばらつきをリアルタイムで監視。
- ET-100B／C — 複数ポイントの温度とホットスポットを監視。
- 高電圧治具／インターロック — 高電圧試験エリアの絶縁・インターロックを強化し、試験リスクを低減。
推奨試験パッケージ
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パッケージ |
用途 | 推奨構成 |
対応項目 |
| BBU Cell Lab | セル前工程 | BT-2000 5V＋Pulse／DCIR | 容量、Pulse、DCIR |
| BBU Pack Basic | 48V Core Pack | BT-2000 60V/100A＋CP／BMS／恒温槽 | バックアップ時間、サイクル、BMS、環境 |
| BBU Pack Pro | 48V 高出力／OCP | BT-2000 60V/300A＋BMS／恒温槽／ES／ET | 高出力、Bus シナリオ、整合性 |
| BBU HV 800V | 高電圧バックアップ | PBT-2000 800V＋回生／BMS／ES／ET | 高出力、回生、HPPC／波形、SOH |
統合ソフトウェアプラットフォーム：iBest
iBest は、BBU 試験の作成、実行、監視、解析をひとつの環境に統合します。操作習得の負担を軽減し、複数プロジェクト間で試験手順を効率的に共有・再利用できます。
- プロセス設定 — 変数化した終了条件、C-rate、プロセスプレビュー、保護条件を柔軟に設定。
- 主要試験モード — HPPC／DST／FUDS／Waveform／Pulse／DCIR／CP。
- リアルタイム監視 — リアルタイム曲線、予約一時停止、試験再開、二重保護に対応。
- データ解析・出力 — レポート、CSV／Excel、dQ/dV、SOC 解析（オプション）に対応。
- システム連携 — Chamber、CANbus／BMS、外部計測機器、MES（オプション）との統合が可能。
安全性を考慮した統合設計
安全設計には「検知 → 保護動作 → イベント追跡」の階層型アプローチを採用。高電圧試験環境では、絶縁やインターロックをさらに強化することで、作業者、DUT、試験設備の安全性向上に貢献します。
代表的な構成では、PC 上の iBest と BT-2000／PBT-2000 充放電システムを接続し、Chamber 恒温槽、BMS 通信、ES-100B 電圧収集、ET-100B／C 温度収集を統合。性能・通信・環境条件をひとつの試験環境で総合的に検証できます。
最適なシステム構成をご提案します
DUT の電圧アーキテクチャ、瞬時電流／電力、対象試験項目、必要チャンネル数をお知らせください。承德科技が機種選定、試験手順の設計、治具評価までサポートします。
BT-2000／PBT-2000 シリーズは現在販売中です。製品の詳細・仕様については、承德科技公式ウェブサイトをご覧ください。
BT-2000 シリーズ：https://www.chentech.com.tw/jindex/project/bt-2000-series/
PBT-2000 シリーズ：https://www.chentech.com.tw/jindex/project/pbt-2000-series/
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